偏光顯微成像系統的測定步驟與使用注意事項，能夠有效保障實驗的順利進行，延長設備使用壽命，同時獲取準確可靠的觀測數據與高質量的圖像，為科研與檢測工作提供有力支持。
1.準備樣品：根據觀察需求，制備合適的樣品。對于礦物等不透明樣品，通常需要制作成薄片；對于生物樣本等，可能需要進行染色、切片等處理，以確保樣品符合偏光顯微鏡的觀測條件，且表面平整、清潔。
2.開啟系統：檢查偏光顯微成像系統是否處于關閉狀態，若關閉則打開電源。等待系統啟動穩定，一般需要幾分鐘時間，讓光源、電子元件等達到正常工作狀態。
3.放置樣品：將制備好的樣品放置在載物臺上，用夾片或樣品固定裝置固定好，防止樣品在觀察過程中移動。
4.調整光路：先調整光源亮度，使視野明亮但不刺眼。然后通過旋轉起偏器和檢偏器，選擇合適的偏振角度，通常起偏器和檢偏器的振動方向相互垂直，以獲得清晰的偏光效果。
5.聚焦觀察：先用低倍物鏡進行初步觀察和聚焦，找到樣品的大致位置和輪廓。然后根據需要切換到高倍物鏡，進一步觀察樣品的細節結構。在切換物鏡時，注意避免物鏡與樣品或載物臺發生碰撞。
6.圖像采集與分析：當觀察到清晰的圖像后，可以使用連接的相機或圖像采集設備對圖像進行采集。采集的圖像可以傳輸到計算機上，使用專業的圖像分析軟件對圖像進行分析和處理，如測量樣品的尺寸、角度、顏色等參數，以及觀察樣品的光學特性和微觀結構變化。
偏光顯微成像系統的基本工作原理：
-起偏：在光源和樣品之間放置起偏鏡(通常為偏振片或尼科耳棱鏡)，將自然光轉化為線偏振光。起偏鏡的振動方向是特定的，只有與該方向平行的光振動分量能夠通過，從而獲得振動方向一致的線偏振光。
-樣品對偏振光的影響：當線偏振光通過具有光學各向異性的樣品時，會發生雙折射現象。對于晶體等各向異性物質，其在不同方向上的折射率不同，會使偏振光分解為兩束振動方向相互垂直的偏振光，一束沿著晶體的光軸方向傳播，另一束則在垂直于光軸的方向上傳播，二者的傳播速度不同，產生相位差。而對于各向同性的單折射體，如普通氣體、液體以及非結晶性固體，光的性質和進路不因照射方向而改變，不會產生雙折射現象。
-檢偏：在樣品和目鏡之間放置檢偏鏡，其振動方向與起偏鏡的振動方向相互垂直。從樣品出射的偏振光經過檢偏鏡時，只有與檢偏鏡振動方向平行的光振動分量能夠通過。如果樣品沒有改變偏振光的振動方向，那么經過起偏鏡和檢偏鏡后，光線無法通過，視場保持黑暗；如果樣品改變了偏振光的振動方向，部分光線將通過檢偏鏡，從而在目鏡中形成明亮的像。
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更新時間：2025-07-22 
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